Metoda opazovanja v svetlem polju in metoda opazovanja v temnem polju sta dve običajni mikroskopski tehniki, ki imata različne aplikacije in prednosti pri različnih vrstah opazovanja vzorcev. Sledi podrobna razlaga obeh metod opazovanja.
Metoda opazovanja svetlega polja:
Metoda opazovanja svetlega polja je ena najbolj temeljnih in široko uporabljenih tehnik mikroskopije. Pri opazovanju v svetlem polju je vzorec osvetljen s prepuščeno svetlobo, slika pa se oblikuje glede na jakost prepuščene svetlobe. Ta metoda je primerna za številne rutinske biološke vzorce, kot so obarvane rezine tkiva ali celice.
Prednosti:
Enostaven za uporabo in uporaben za široko paleto bioloških in anorganskih vzorcev.
Zagotavlja jasen pogled na celotno strukturo bioloških vzorcev.
Slabosti:
Ni primeren za prozorne in brezbarvne vzorce, saj pogosto nimajo kontrasta, zaradi česar je težko dobiti jasne slike.
Ni mogoče razkriti finih notranjih struktur znotraj celic.
Metoda opazovanja temnega polja:
Opazovanje v temnem polju uporablja posebno razporeditev osvetlitve za ustvarjanje temnega ozadja okoli vzorca. To povzroči, da vzorec razprši ali odbije svetlobo, kar ima za posledico svetlo sliko na temnem ozadju. Ta metoda je še posebej primerna za prozorne in brezbarvne vzorce, saj poudari robove in konture vzorca ter s tem poveča kontrast.
Poseben pripomoček, potreben za opazovanje temnega polja, je kondenzor temnega polja. Zanj je značilno, da svetlobni žarek ne prepušča pregledanega predmeta od spodaj navzgor, temveč spremeni pot svetlobe tako, da je nagnjena proti predmetu, tako da svetilna svetloba ne vstopi neposredno v lečo objektiva, in uporabi se svetla slika, ki jo tvori odboj ali uklon svetlobe na površini pregledanega predmeta. Ločljivost opazovanja v temnem polju je veliko večja kot pri opazovanju v svetlem polju, do 0,02-0,004 μm.
Prednosti:
Uporablja se za opazovanje prozornih in brezbarvnih vzorcev, kot so žive celice.
Izboljša robove in fine strukture vzorca ter tako poveča kontrast.
Slabosti:
Zahteva bolj zapleteno nastavitev in posebno opremo.
Vključuje prilagajanje položaja vzorca in vira svetlobe za optimalne rezultate.
Čas objave: 24. avgusta 2023